產(chǎn)品中心
Product Center
熱門搜索：
GCDLSM-800端子電流耐久性測試系統(tǒng)
GCDLSM-800端子插拔循環(huán)壽命試驗機
GCDLSM-800端子高低溫循環(huán)測試儀
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗系統(tǒng)
GCDLSM-800端子電流循環(huán)壽命試驗機
GCSTD-D高低頻介電常數(shù)試驗測試儀
NLD-AI電線電纜漏電起痕試驗儀
GDW-250電阻高溫度特性測試試驗臺
GCDDJ-100Kv電壓擊穿試驗儀
PMQS-I新款國產(chǎn)泡沫起升儀PMQS
GEST-121薄膜體積電阻率測試儀
PMQS-IPMQS泡沫起升儀
GCSTD-FI液體高低介電常數(shù)及介質損耗測試儀
GEST-122多功能炭素粉末石墨電阻率測量儀
GEST-122多功能炭素電極電阻率測試儀
FTDZ-I粉末電阻率測試儀
當前位置：首頁
產(chǎn)品中心介電常數(shù)測試儀高低頻介電常數(shù)測試儀GCSTD-D新款高低頻介電常數(shù)測試儀
新款高低頻介電常數(shù)測試儀
產(chǎn)品簡介
product
產(chǎn)品分類| 品牌 | 冠測儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
|---|---|---|---|
| 加工定制 | 否 | 測試參數(shù) | C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR? |
| 測試頻率 | 20Hz~2MHz.10mHz步進? | 測試信號電 | f≤1MHz?10mV~5V,±(10%+10mV)? |
| 輸出阻抗 | 10Ω,30Ω,50Ω,100Ω? | 基本準確度 | 0.1% |
| 顯示范圍 | Y,B,G?0.0001nS~99.999S? | 快速 | 200次/s(f |
| 慢速 | 5次/s | 校準功能 | 開路/短路點頻、掃頻清零，負載校準 |
| 等效方式 | 串聯(lián)方式，并聯(lián)方式? | 量程方式 | ?自動，保持? |
| 顯示方式 | 直讀 | 觸發(fā)方式 | 內部,手動,外部,總線 |
| 顯示器 | 320x240點陣圖形LCD顯示 | 存儲器 | 可保存20組儀器設定值 |
GCSTD-D 新款高低頻介電常數(shù)測試儀
滿足標準：
GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內）下電容
率和介質損耗因數(shù)的推薦方法
GB／T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質損耗角正切值的測定方法
ASTM D150／IEC 60250固體電絕緣材料的（恒久電介質）的交流損耗特性和介電常數(shù)
的測試方法
新款高低頻介電常數(shù)測試儀試驗方法：
接觸法：適用于厚度均勻、上下表面平整、光滑材料
非接觸法：適用于上下表面不平整、不光滑材料
電極類型：固定電極-測量電極φ38mm／φ50mm（標配電極1套，標配為38mm）
液體電極-液體容量15ml
粉體電極-根據(jù)樣品量可配專用電極
試樣類型：固體、液體、粉體、膏體／規(guī)則物或者不規(guī)則物
性能特點：
測試頻率20H2～2MHz，10mHz步進
測試電平10mV～5V，1mV步進
基本準確度0.1％
最高達200次／s的測量速度
320x240點陣大型圖形LCD顯示
五位讀數(shù)分辨率
可測量22種阻抗參數(shù)組合
四種信號源輸出阻抗
10點列表掃描測試功能
內部自帶直流偏置源
外置偏流源至40A（配置兩臺TH1776）（選件）
電壓或電流的自動電平調整（ALC）功能
V、1測試信號電平監(jiān)視功能
圖形掃描分析功能
20組內部儀器設定可供儲存／讀取
內建比較器，10檔分選及計數(shù)功能
多種通訊接口方便用戶聯(lián)機使用
2m／4m測試電纜擴展（選件）
中英文可選操作界面
可通過USB HOST 自動升級儀器工作程序
測試材料：
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡元件
等的陽抗參數(shù)評估和性能分析。
半導體元件：變容二極管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數(shù)、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性
上一個：
返回列表
