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        介質(zhì)損耗測(cè)試儀廠家/介電常數(shù)測(cè)試儀

        型 號(hào)gdat-c

        更新時(shí)間2024-11-19

        廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

        報(bào)價(jià)

        產(chǎn)品描述:介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

        產(chǎn)品概述

        電感:
         
        線圈號(hào)    測(cè)試頻率    Q值    分布電容p       電感值  
          9         100KHz      98       9.4           25mH
          8         400KHz     138       11.4        4.87mH
          7         400KHz    202       16           0.99mH
          6           1MHz     196       13          252μH
          5           2MHz     198       8.7        49.8μH
          4         4.5MHz    231       7             10μH 
          3          12MHz      193     6.9         2.49μH
          2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
          1   25MHz,50MHz   233,211    0.9       0.125μH


        介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長(zhǎng)在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
        一、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀概述

        GDAT高頻 Q 表作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器,測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 

        gdat高頻Q表的創(chuàng)新設(shè)計(jì),無疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案,它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具
        ,測(cè)量值更為精確,測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì),無須關(guān)注量程和換算單位。 

         
          主要技術(shù)特性  
        Q 值測(cè)量范圍  2 ~ 1023 , 量程分檔: 30 、 100 、 300 、 1000 ,自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔  
        固有誤差  ≤ 5 % ± 滿度值的 2 %( 200kHz ~ 10MHz ), ≤6% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
        工作誤差  ≤7% ± 滿度值的2% ( 200kHz ~ 10MHz ), ≤8% ± 滿度值的2%(10MHz~160MHz)  
        電感測(cè)量范圍 

         4.5nH ~ 140mH  


        電容直接測(cè)量范圍

         1 ~ 200pF  


        主電容調(diào)節(jié)范圍

         18 ~ 220pF  


        主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度

         100pF 以下 ± 1pF ; 100pF 以上 ± 1 %  


        信號(hào)源頻率覆蓋范圍

         100kHz ~ 160MHz

         
        頻率分段 ( 虛擬 )

         100 ~ 999.999kHz , 1 ~ 9.99999MHz,10 ~ 99.9999MHz , 100 ~ 160MHz

         
        頻率指示誤差

         3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字  

        搭配了全新的介質(zhì)損耗裝置與GDAT系列q表搭配使用
        一 . 概述

        BD916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置與本公司生產(chǎn)的各款高頻Q表配套,可用于測(cè)量絕緣材料的介電常數(shù)和介質(zhì)損耗系數(shù)(損耗角正切值)。
        BD916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置是BD916914的換代產(chǎn)品,它采用了數(shù)顯微測(cè)量裝置,因而讀數(shù)方便,數(shù)據(jù)精確。
        BD916介質(zhì)損耗測(cè)試裝置技術(shù)特性 

        平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選  
        極片間距可調(diào)范圍:≥15mm 
        2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm 
        3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz) 
        4.測(cè)微桿分辨率:0.001mm
         
         


        北廣公司其它絕緣材料檢測(cè)儀器: 

        BDJC-0-100KV 介電擊穿試驗(yàn)儀

        BDJC系列絕緣材料工頻率介電擊穿試驗(yàn)儀

        BDJC系列電壓介電強(qiáng)度試驗(yàn)儀器

        BDJC系列 電壓擊穿試驗(yàn)儀 

        BDJC系列絕緣漆漆膜擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀

        BDJC電容器紙工頻電壓擊穿試驗(yàn)儀

        EST-121 體積表面電阻率測(cè)定儀 

        GDAT-A介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介電常數(shù)測(cè)試儀 

        GDAT-C新型介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀

        BDH 耐漏電起痕試驗(yàn)儀

        BDH-B耐電弧試驗(yàn)儀

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