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        介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)

        點(diǎn)擊次數(shù):2084  更新時(shí)間:2013-09-18

         

        高頻Q表是多用途的阻抗測(cè)量?jī)x器,為了提高測(cè)量精度,除了使Q表測(cè)試回路本身殘余參量盡可能地小,使耦合回路的頻響盡可能地好之外,還要掌握正確的測(cè)試方法和殘余參數(shù)修正方法。

        下面為大家介紹一下介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)

        1.測(cè)試注意事項(xiàng)
        a.本儀器應(yīng)水平安放。
        b.如果你需要較地測(cè)量,請(qǐng)接通電源后,預(yù)熱30分鐘,將調(diào)諧電容從小到大緩慢地調(diào)一次,CPU將自動(dòng)對(duì)顯示的電容進(jìn)行溫度補(bǔ)償,然后再進(jìn)行測(cè)試。
        c.調(diào)節(jié)主調(diào)電容的電容量時(shí),特別注意當(dāng)刻度調(diào)到zui大或zui小值時(shí),不要用力繼續(xù)再調(diào).
        d.被測(cè)件和測(cè)試電路接線柱間的接線應(yīng)盡量短,足夠粗,并應(yīng)接觸良好、可靠,以減少因接線的電阻和分布參數(shù)所帶來(lái)的測(cè)量誤差。
        e.被測(cè)件不要直接擱在面板頂部,離頂部一公分以上,必要時(shí)可用低耗損的絕緣材料如聚苯乙烯等做成的襯墊物襯墊。
        f.手不得靠近試件,以免人體感應(yīng)影響造成測(cè)量誤差,有屏蔽的試件,屏蔽罩應(yīng)連接在低電位端的接線柱。

         

        標(biāo)簽電壓擊穿試驗(yàn)儀,體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀,介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀,電阻率測(cè)試儀,低溫脆性沖擊試驗(yàn)儀電壓擊穿試驗(yàn)儀,電氣強(qiáng)度試驗(yàn)儀,介電擊穿強(qiáng)度試驗(yàn)儀,體積電阻率表面電阻率測(cè)試儀,介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀,耐漏電起痕試驗(yàn)儀,低溫脆化沖擊試驗(yàn)機(jī),材料試驗(yàn)機(jī),抗彎強(qiáng)度試驗(yàn)機(jī),拉力試驗(yàn)機(jī),海綿泡沫落球回彈試驗(yàn)機(jī)

         

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